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1、频双说明可控硅的何测G、K并不像一般三极管的可控控硅发射结，有明显的硅测正、反向电阻的量方量差异。

2、法视小型加工厂创业项目用万用表即可判断双向可控硅的频双好坏，但具体参数测不出来。何测

3、可控控硅这种测量方法是硅测有局限性的，当A和K处于开路状态时，量方量质量无法测量。

4、DIP4管脚型ZC三端双向可控硅光电耦合器利用万用表RXl档判定双向可控硅电极的方法，同时还检查触发能力。

5、根据P-N结的原理，只要用万用表测量一下三个极之间的电阻值就可以。

本文到此讲解完毕了，希望对大家有帮助。